Evaluación de la fiabilidad de microprocesadores COTS mediante las infraestructuras de depuración On-Chip

Este artículo presenta una herramienta de inyección de fallos y la metodología para la realización de campañas de inyección de Single-Event-Upsets (SEUs) en microprocesadores Commercial-off-the-shelf (COTS). Este método utiliza las ventajas que ofrecen las infraestructuras de depuración de los micro...

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Isaza-González, José, Serrano-Cases, Alejandro, Restrepo-Calle, Felipe, Cuenca-Asensi, Sergio, Martínez-Álvarez, Antonio
Formato: Online
Idioma:spa
Publicado: Universidad Tecnológica de Panamá, Panamá 2017
Acceso en línea:https://revistas.utp.ac.pa/index.php/id-tecnologico/article/view/1432

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